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常用元、器件故障特點(diǎn)及檢測(cè)方法

表1 常用元、器件故障特點(diǎn)及檢測(cè)方法

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 名 稱
    損壞情況
    故障特征
    檢查方法
電阻
 燒斷(開路)、短路、
 表面焦化、發(fā)黑、引
 
  
 用萬(wàn)用表測(cè)量電阻分別為∞、0阻值變化
接觸不良
線松脫、膜層脫落
 
保險(xiǎn)絲電阻
  
 用萬(wàn)用表測(cè)量電阻分別為∞或大于標(biāo)稱
 熔斷、變值
 表面焦化、變色
 
  
值數(shù)倍
熱敏、壓 敏電阻
 開路、短路、接觸
 
 用萬(wàn)用表測(cè)量電阻分別為∞、0,阻值不
不良、變質(zhì)
 表面焦化、變形
 
  
穩(wěn)、阻值變化規(guī)律不正常
電位器
 開路、短路、動(dòng)片
  
接觸不良、局部損壞、
 表面油污附著、變形、
 用萬(wàn)用表測(cè)量電阻分別為∞、0,阻值不
 
轉(zhuǎn)動(dòng)不靈、有雜聲
穩(wěn)、阻值突變或變化規(guī)律不正常
碳膜失落
  
電容器
 漏電、擊穿、內(nèi)部
 視在電路中的作用對(duì)
 較大電容(>0.01μF)用萬(wàn)用表檢測(cè),表
開路、短路、接觸不
電源、圖像、聲音等有
針擺動(dòng)幅度隨容量而增大;較小電容
  
(<5 000pF=用附加器檢測(cè)或良品電容并
良、容量變化
不同影響
 
  
聯(lián)檢查
電解電容器
 擊穿、漏電嚴(yán)重、
 電解電容漏液、失效、
 用萬(wàn)用表測(cè)量電阻分別為∞或0,充放電
斷線、容量顯著減小
封口膨脹或干枯
不明顯或無(wú)充放電現(xiàn)象,穩(wěn)定電阻較小
電感器
 燒斷、斷線、接觸
  
 
 表面焦化、引線活動(dòng)
 用萬(wàn)用表測(cè)量電阻為∞或時(shí)斷時(shí)通
不良
  
晶體
 內(nèi)部斷線或振裂變
  
 
 電器不能正常工作
 用替代法檢查
質(zhì)
  
SAWF
 輸入、輸出端短路、
 無(wú)圖、無(wú)聲有雜波和
 用萬(wàn)用表測(cè)試輸入阻值很小、輸出電壓很
  
低或電壓波動(dòng),用數(shù)百皮法電容跨接檢查
開路、內(nèi)部接觸不良
“沙沙”聲
 
陶瓷濾波器
 輸入輸出端短路、
 造成信號(hào)被旁路或受
 用萬(wàn)用表測(cè)試輸入輸出端阻值很小或?yàn)?/div>
開路(內(nèi)部斷線或鍍
  
 
銀層脫落)
  
延遲保險(xiǎn)絲
 燒斷
 肉眼可視,細(xì)絲已斷
 用萬(wàn)用表測(cè)電阻為。。
   
開關(guān)
 
 引起間歇接收故障,
 用萬(wàn)用表測(cè)量時(shí)通時(shí)斷、漏電阻小,檢查
 接觸不良、漏電
 
時(shí)可多次開關(guān)看故障現(xiàn)象有無(wú)變化,用清洗
 
觸點(diǎn)氧化是常見原因
 
  
法修理
插頭、插座
 接觸不良
 觸點(diǎn)銹蝕或松脫、受
 用烘干法檢修。顯像管管座易發(fā)生漏電,
 
湖或積垢
使聚焦、加速電壓調(diào)不高
集成電路
 
 因內(nèi)含功能電路多,
 在線測(cè)量各腳電壓、對(duì)地電阻以及單塊
 局部損壞
耐壓低且過載能力差,
IC各腳之間的電阻值,與標(biāo)稱值進(jìn)行比較
  
就可以發(fā)現(xiàn)故障
 
只要一部分損壞便報(bào)廢
 
印制電路板
 焊點(diǎn)銅箔脫落、引
 用放大鏡可觀察到
 用萬(wàn)用表作通斷檢查
線銀條斷裂
  
緊固件
 螺釘丟失、卡扣損
  
 
 影響機(jī)件、導(dǎo)線定位
 檢查時(shí)有規(guī)則的放好,及時(shí)復(fù)位
  
變壓器
鐵芯
 斷線、局部短路、
 過載燒斷有焦味,受
 通斷檢查可發(fā)現(xiàn)斷線、初次級(jí)短路故障,
  
用摸溫法可發(fā)現(xiàn)局部短路,也可用替代法檢
初次級(jí)擊穿
潮易霉斷
 
  
中周
 斷線、線圈與外殼
 直觀檢查可發(fā)現(xiàn)磁芯
 

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